Chroma Model 19200電氣安規(guī)多點(diǎn)掃描測(cè)試儀設(shè)備產(chǎn)品特色

·支持電氣安規(guī)測(cè)試掃描功能:

。AC/DC耐壓測(cè)試

。 IR絕緣阻抗測(cè)試

。GB接地電阻測(cè)試

。 ELC對(duì)地動(dòng)態(tài)漏電流

。 ECLC外殼動(dòng)態(tài)漏電流

。PLC病患動(dòng)態(tài)漏電流

。 PALC病患從屬漏電流

·高壓、低壓間隔離電路切換(Switch模塊)

·高壓與接地測(cè)試間浮接電路(GBF模塊)

·可抽換模塊化設(shè)計(jì)

·支援最多9臺(tái)受控子機(jī)

·標(biāo)準(zhǔn)RS232及USB接口

·可選購(gòu)GPIB界面

·可支持8900電氣產(chǎn)品自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

近年來(lái)IEC國(guó)際電子為了讓消費(fèi)者在使用電氣產(chǎn)品時(shí)更加安全，在標(biāo)準(zhǔn)中加入更多的電氣安規(guī)測(cè)試。除了AC/DC耐壓測(cè)試、IR絕緣電阻測(cè)試、GB接地電阻測(cè)試、LC對(duì)地動(dòng)態(tài)漏電流測(cè)試外，尚有針對(duì)醫(yī)療設(shè)備之ELC(對(duì)地漏電流)、ECLC(外殼漏電流)、PLC(病患漏電流)、PALC(病患從屬漏電流)等動(dòng)態(tài)泄漏電流測(cè)試，使得電氣安規(guī)測(cè)試日益繁復(fù)，且各項(xiàng)測(cè)試皆須針對(duì)不同的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，不但測(cè)試過(guò)程復(fù)雜容易出錯(cuò)，也額外產(chǎn)生了測(cè)試人力成本。

Chroma新推出19200機(jī)種可整合多種電氣安規(guī)測(cè)試以及高低壓測(cè)試切換，掃描信道可耐壓5kVac/6kVdc高壓輸出，符合市場(chǎng)安規(guī)機(jī)種之耐壓需求，最大輸出電流可達(dá)40mA;部份模塊可支持20A電流輸出，可進(jìn)行動(dòng)態(tài)泄漏電流及功能性測(cè)試(Function Test);接地模塊可支持40A電流或Ground Floating功能。所有的輸出控制可由RS232、GPIB或USB等接口來(lái)操作。

Chroma Model 19200電氣安規(guī)多點(diǎn)掃描測(cè)試儀設(shè)備可搭配Chroma安規(guī)測(cè)試機(jī)系列及8900系統(tǒng)可進(jìn)行測(cè)試程序及信道掃描的編輯及測(cè)試，對(duì)于醫(yī)療設(shè)備、醫(yī)療用電源、UPS、馬達(dá)等需要多項(xiàng)程序測(cè)試的產(chǎn)品，大量節(jié)省人力成本以及減少錯(cuò)誤發(fā)生，更可用軟件儲(chǔ)存大量不同測(cè)試程序及結(jié)果，將數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理，不但擁有可靠的質(zhì)量，產(chǎn)線更能有效率的管理與生產(chǎn)。

可抽換模塊設(shè)計(jì)及多機(jī)受控設(shè)計(jì)

為因應(yīng)不同產(chǎn)品具有不同的安規(guī)測(cè)試項(xiàng)目，且不同產(chǎn)品會(huì)有不同測(cè)試程序，Chroma 19200以模塊的方式來(lái)搭配不同的掃描測(cè)試，共有8個(gè)模塊:AC LINE模塊，GENERAL模塊，AC LINE2模塊，EARTH模塊，SWITCH模塊。不同的模塊具有不同的切換功能，您可依不同的需求，將不同模塊做組合搭配后成為效率高的測(cè)試掃描設(shè)備。Chroma19200提供單機(jī)8組可抽換模塊空間，及最多9臺(tái)主機(jī)/子機(jī)受控設(shè)計(jì)，最多可高達(dá)288個(gè)測(cè)試輸出點(diǎn)。您可針對(duì)不同的測(cè)試回路以及程序編輯，做出多種組合的切換及輸出搭配。

高低壓測(cè)試電路切換

為了整合電氣安規(guī)測(cè)試及其他功能性測(cè)試，Chroma 19200新增了SWITCH高低壓切換模塊。經(jīng)由高低壓切換模塊的組合，可將高壓的電氣安規(guī)測(cè)試與低壓的功能性測(cè)試結(jié)合在一起，如:LCR測(cè)試，POWER測(cè)試，啟動(dòng)測(cè)試等等，讓產(chǎn)在線測(cè)試程序一次完成，并將測(cè)試數(shù)據(jù)完整的記錄，增進(jìn)測(cè)試效率，降低多站測(cè)試的風(fēng)險(xiǎn)。